一维激光系统

MICROTRAK 4:一维激光位移传感器

MICROTRAK 4:一维激光位移传感器

Microtrak™4是用于测量高度、厚度、位移、振动等的终极激光位移传感器,具有40k采样/秒的传感器帧率。线性度为0.03% FSO (Full Scale Output),精度和重复性得到保证
Microtrak 3激光位移传感器

MicroTrak 3:1D激光位移传感器

高分辨率、高速激光位移传感器(非接触式线性位移传感器)采用最新的CMOS传感器技术,即使是最困难的测量应用也面临挑战。Microtrak™3是过程自动化、质量控制和工具自动化控制的基本测量工具,适用于厚度测量、尺寸位移、零件轮廓、振动测试、累积测量等应用。
MicroTrak 3激光位移传感器对

测厚仪系统

MicroTrak 3激光厚度计系统将经过验证的激光三角测量传感器与模块化控制器相结合,可作为独立解决方案或PLC / PC操作。它通过高速内部采样和数字厚度计算简化了激光厚度测量应用,减少了传统的模拟总结方法经常遇到的误差。

爱游戏ayxdota2MTI仪器提供高速,高分辨率和高度精确的1D激光传感器(非接触式线性位置传感器),用于测量位移和位置。我们的激光测量系统允许易于定位设置和与其可见激光位置点对齐(退房激光安全标准处理激光传感器之前)。质量和过程控制应用,需要精确的翘曲,校准,领先位置集成电路,薄板和web厚度测量可以精确和可重复,因为我们的1D激光位移测量传感器配备了自动增益功能,使其不受表面(即能量反射)纹理的影响,彩色或杂散光。我们的大阵容非接触式位移传感器包括激光三角测量传感器为300mm提供操作距离,测量范围为200mm,测量分辨率小于1微米。

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