观看MTI的Permorma 300isa碳化硅晶片视频，并了解如何测量汽车电子中使用的SIC晶片。
视频摘要
MTI仪器的Proforma 300i SA是一个半爱游戏ayxdota2自动仪器，可用于测量汽车电子系统中使用的碳化硅（SIC）晶片。与硅芯片相比，SiC半导体具有更好的导电性。这使得能够更高的开关频率，并确保以热量的形式显着减少能量 - 电子设备的敌人。
Proforma 300i SA用户友好，专为桌面使用而设计。一旦将晶片加载到工具的甲板上，并且用户打开软件应用程序，所有用户都需要做的就是按Enter键。硬件剩下的。
从历史上看，碳化硅中的电容难以或几乎不可能测量。Proforma 300i SA不仅可以实现这些测量值，而且非常准确。实际上，它们准确到加号或减去0.250微米。
大约三十秒后，MTI的软件通过3D图的形式提供有关晶片的完整信息，并通过表面形成厚度图。此信息为用户提供了识别弓箭问题以及网站平整度的工具。也可以以不同格式检查数据。
爱游戏ayxdota2MTI仪器还提供晶圆测量服务。让我们训练有素的技术人员测量您的晶圆并将结果报告给您。
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